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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
測(cè)量精度高 可瞬間測(cè)量絕對(duì)量子效率（絕對(duì)量子收率） 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)
更新時(shí)間：2026-03-31
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薄膜到厚膜的測(cè)量范圍 UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由絕對(duì)反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000高gao端機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無(wú)復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1545
可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1122
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè) ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量（500萬(wàn)點(diǎn)以上/分）
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1366
●采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 ●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) ●作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 ●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專zhuan利） ●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 ●不受偏差影響 ●可對(duì)應(yīng)寬幅樣品（TD方向最大可測(cè)量10m）
更新時(shí)間：2026-03-31產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1329
●通過(guò)分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量 ●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開(kāi)度、光束光通量 ●涵蓋從紫外線到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍 ●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)用產(chǎn)品的廣泛樣品 ●用軟件批量控制電源和測(cè)量?jī)x器
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